额定电压1kV（Um=1.2kV）和3kV（Um=3.6kV）挤包绝缘电力电缆非金属护套厚度的测量检测,第三方检测机构|北京中科光析科学技术研究所

额定电压1kV（Um=1.2kV）和3kV（Um=3.6kV）挤包绝缘电力电缆非金属护套厚度的测量检测，是评价电缆外护层机械防护能力与结构符合性的基础项目。非金属护套直接承受敷设与运行中的磨损、挤压及环境侵蚀，其厚度是否达标与电缆使用寿命密切相关。本文依照样品制备、测量方法、操作要点、精度控制与结果判定的顺序，系统阐述该项目的检测原理、光学投影法与千分尺法两种测量途径及合格判定要求，为检测人员实施规范测量提供方法参照。

检测原理与机制

非金属护套厚度测量属于几何尺寸检验范畴，其原理是在电缆横截面上对护套材料的薄部位进行定位与量取。由于挤包工艺中护套沿圆周方向的挤出量存在波动，护套各点厚度并不均匀，测量须以小厚度作为表征值。将电缆横截面制成平整切面试样后，护套呈现为包裹缆芯的环状材料层。借助光学放大投影或微接触式量具，对护套剖面进行逐点量取，寻出薄点并读取其厚度值，即为该试样的测量结果。测量机制的核心在于切面制备的完整性与量取位置的代表性。

检测对象与取样要求

检测对象为额定电压1kV（Um=1.2kV）和3kV（Um=3.6kV）挤包绝缘电力电缆成品上的聚氯乙烯、聚乙烯或无卤材料等非金属护套层。取样应在成品电缆的任一位置截取一段，长度以满足制样与夹持需要为准。取样前应检查护套外观，剔除因运输或存放造成的明显机械损伤区段。制样时采用锐利切割工具在垂直于电缆轴线的平面内切取横截面，切割过程应避免护套受热变形或被压扁。切面须平整、无毛刺，护套环层完整无缺肉，缆芯与护套界面清晰可辨。

护套厚度测量方法——光学投影法与千分尺法

光学投影法为仲裁性方法。将试样的电缆横截面置于投影仪载物台上，经光学放大后，护套剖面轮廓成像于投影屏上。沿护套环轮廓逐点核查，找出薄位置，利用投影仪的读数机构量取该处厚度。该方法放大倍数清晰、读数客观，适用于各类截面尺寸的电缆。千分尺法则以尖头千分尺或带平台的测厚千分尺直接量取。在护套环上目测薄区域，将测砧与测微螺杆的测量面轻触护套内外表面后读数。两种方法均以薄点厚度为报出值，可根据设备条件与精度要求选用。

测量步骤与操作要点

采用投影法时，先将试样切面朝上固定，调整焦距使轮廓成像清晰。沿护套环依次观察各区域的轮廓宽度变化，对可疑薄处以投影屏刻度反复比对，确认薄点后读数并记录。采用千分尺法时，应从护套环上目测定位薄区域，测量面与护套表面保持垂直接触。施力须轻缓，防止软质护套被压缩而产生偏小的读数。每个试样宜在不同周向位置多次量取，以小值为该次结果。操作中应避免用手直接触摸待测切面，防止切面沾染污物影响轮廓判读。读数前须校核量具零位。

测量精度与重复性要求

测量精度取决于量具分度值与切面质量。投影仪与千分尺的分度值应满足对小厚度读数的需求，常用测厚量具分度值不低于0.01毫米量级。重复性方面，同一操作者在同一试样薄点附近连续多次测量，各次读数之间的差异应处于量具示值变动允许的范围内。若相邻量取点读数波动异常，应先排查切面平整度、护套受压变形及量具零位漂移等因素，再行复测。不同方法对同一试样的结果出现分歧时，宜以光学投影法结果为准进行复核确认。

判定标准与不合格处理

判定依据为相应产品标准中对护套标称厚度及其允许偏差的规定。通常护套厚度实测值不得低于标称值减去规定偏差后的下限，同时标准对护套平均厚度与薄点厚度分别给出限定要求。实测薄点厚度达到规定下限的判为合格。若测量结果低于下限，应在同批电缆上另取试样复测确认。复测仍不合格的，该批电缆护套厚度项目判定为不符合，须分析挤出模具、牵引速度与外径控制等工艺环节的偏差来源，整改后重新提交检验。判定结论应附测量值、测量方法及测量位置记录。