GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法

标准号：GB/T 33236-2016

　　中文标准名称：多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法

　　英文标准名称：Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method

　　标准状态：现行

　　中国标准分类号：(CCS)G04

　　标准分类号：(ICS)71.040.40

　　发布日期：2016-12-13

　　实施日期：2017-11-01

　　主管部门：标准化管理委员会

　　归口单位：微束分析标准化技术委员会

主要起草单位

　　中国科学院上海硅酸盐研究所 。

主要起草人

　　卓尚军 、钱荣 、董疆丽 、申如香 、盛成 、高捷 、郑文平 。

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