二极管反向电压检测

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二极管反向电压检测:核心检测项目与方法详解

一、核心检测项目

  1. 反向击穿电压(VBR)

    • 定义:二极管在反向偏置下发生击穿时的临界电压值,是衡量其耐压能力的关键参数。
    • 测试标准:依据JEDEC标准(如JESD282B)或厂商规格书,通常测试时电流达到1 mA或10 mA时的电压值。
    • 判定依据:实测VBR需高于标称反向电压(VRRM)且低于大允许击穿电压(VBR(max))。
  2. 反向漏电流(IR)

    • 定义:二极管在反向电压未达到击穿前的微小电流,反映其反向阻断能力。
    • 测试条件:在指定反向电压(如100% VRRM)和温度(25℃或高温)下测量漏电流。
    • 典型值范围:硅二极管漏电流通常为nAμA级,肖特基二极管略高(μAmA级)。
  3. 温度特性测试

    • 高温反向偏置(HTRB):在高温(如125℃)下施加反向电压,持续48~168小时,评估长期稳定性。
    • 温度循环测试:通过-40℃~150℃循环冲击,验证材料热膨胀系数差异对反向耐压的影响。
  4. 动态参数测试

    • 反向恢复时间(trr):在开关电路中,二极管从导通到完全阻断的时间,影响高频性能。
    • 反向恢复电荷(Qrr):恢复过程中积累的电荷量,与开关损耗直接相关。

二、测试方法与设备选型

  1. 直流测试法(静态参数)

    • 设备:高精度源测量单元(SMU,如Keysight B2900系列),支持四线制测量以减少导线电阻误差。
    • 步骤
      • 设置反向电压从0 V逐步升至目标值(如VRRM的1.2倍),记录电流变化。
      • 绘制I-V曲线,确定击穿点(拐点)和漏电流值。
  2. 脉冲测试法(动态参数)

    • 设备:高压脉冲发生器(如Tektronix AFG31000)搭配高速示波器(带宽≥100 MHz)。
    • 应用场景:测试瞬态反向电压耐受能力,避免因长时间加热导致器件损坏。
  3. 温度环境模拟

    • 设备:高低温试验箱(如ESPEC系列),结合探针台实现温度-电性能同步测试。
    • 关键点:需等待温度稳定后(±2℃)再进行测量,避免热漂移误差。

三、注意事项与风险控制

  1. 安全防护

    • 测试高压(>100 V)时需配置隔离罩,防止电弧放电或器件爆裂。
    • 使用防静电手环和接地工作台,避免ESD损伤敏感器件。
  2. 设备校准

    • 定期校准源表和示波器,确保电压和电流测量误差<1%。
    • 验证探针接触电阻(<0.1 Ω),避免接触不良导致数据偏差。
  3. 数据记录与分析

    • 记录环境温湿度、测试时间等参数,建立完整的测试报告。
    • 对比批次抽样数据,若同一批次VBR差异>10%,需排查工艺问题。

四、典型应用场景

  1. 电源设计:验证整流二极管在交流输入波动下的反向耐压余量。
  2. 通信设备:评估ESD保护二极管在雷击浪涌(如IEC 61000-4-5)下的失效阈值。
  3. 汽车电子:AEC-Q101认证要求二极管通过高温反向偏置(HTRB)测试。

五、总结

二极管反向电压检测需结合静态参数与动态特性,通过标准化流程和精密设备确保数据可靠性。重点检测项目包括反向击穿电压、漏电流、温度稳定性等,需严格遵循行业标准(如JEDEC、MIL-STD)和厂商规格书。通过系统化的测试与分析,可有效预防二极管在高反向电压下的失效风险,提升电路设计的鲁棒性。


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