半导体集成电路运算(电压)放大器共模抑制比 KCMR检测

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运算放大器共模抑制比(KCMR)检测方法及项目详解

一、共模抑制比(KCMR)概述

共模抑制比(Common-Mode Rejection Ratio, KCMR)是衡量运算放大器对共模信号抑制能力的关键参数,定义为差模增益(Ad)与共模增益(Ac)的比值,通常以分贝(dB)表示: ����=20log⁡10(����)KCMR​=20log10​(Ac​Ad​​) KCMR越高,运算放大器抑制共模噪声的能力越强,对精密电路设计尤为重要。

二、检测核心项目及流程

1.测试条件准备

  • 环境要求
    • 温度:25℃±2℃(或按器件规格书要求);
    • 湿度:<60% RH;
    • 无强电磁干扰环境。
  • 电源配置
    • 根据器件规格书设置正负供电电压(如±15V);
    • 电源纹波需<1mV。
  • 测试仪器
    • 信号发生器(频率范围覆盖DC~1MHz);
    • 高精度数字万用表(6½位以上)或示波器;
    • 交直流电压表;
    • 共模电压源。

2.检测电路搭建

  • 推荐测试电路:差分输入-单位增益配置(图1)KCMR测试电路示意图
    • 电路说明
      • 输入端施加共模电压(Vcm)和差模电压(Vid);
      • 输出端通过单位增益缓冲器测量输出电压Vout。

3.关键检测项目与步骤

项目1:静态共模抑制比测试(DC KCMR)

  • 步骤
    1. 设置共模电压Vcm在器件允许范围内(如±10V);
    2. 输入差模电压Vid=0;
    3. 测量输出电压Vout;
    4. 计算共模增益:��=�������Ac​=Vcm​Vout​​
    5. 通过已知差模增益Ad(通常由规格书提供)计算KCMR:����=20log⁡10(����)KCMR​=20log10​(Ac​Ad​​)

项目2:动态共模抑制比测试(AC KCMR)

  • 步骤
    1. 输入共模信号为交流信号(如1kHz正弦波);
    2. 使用频谱分析仪或示波器测量输出端共模信号幅值;
    3. 计算高频下的KCMR,需注意信号源频率稳定性。

项目3:全温度范围KCMR验证

  • 在高温(如+85℃)、低温(如-40℃)条件下重复上述测试,验证温度对KCMR的影响。

4.数据处理与误差分析

  • 数据记录表范例

    Vcm (V) Vout (mV) Ac KCMR (dB)
    +10 0.5 0.05 86
    -10 0.6 0.06 84
  • 误差来源

    • 电源噪声;
    • 测试线缆阻抗不匹配;
    • 运放输入偏置电流的影响。

5.标准符合性验证

  • 参照标准(如IEC 60748-4JEDEC JESD78)进行测试,确保结果符合以下要求:
    • 通用运放:KCMR ≥ 80dB;
    • 精密运放:KCMR ≥ 100dB。

三、常见问题与解决方案

  1. 输出漂移问题

    • 原因:电源电压波动或温度漂移;
    • 对策:使用低噪声线性稳压电源,增加热管理。
  2. 高频KCMR下降明显

    • 原因:运放内部电容导致高频响应劣化;
    • 对策:选择增益带宽积(GBW)更高的型号。

四、总结

KCMR检测需严格遵循测试条件,重点关注共模电压范围、信号频率及环境稳定性。通过多维度测试(静态/动态、全温区)可全面评估运放的共模抑制性能,为高精度电路设计提供可靠依据。

附录

  • 测试电路仿真文件(SPICE Netlist)
  • 典型运放型号KCMR指标对照表

如需进一步实验细节或数据分析工具,可参考相关行业标准文档或联系作者获取支持。


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